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research

Performance assessment in biometric systems

Face recognition systems adopt image processing algorithms and compare algorithms' results to those obtained on a reference database of faces. Generally, these systems are simply characterized in terms of percentage of correct and incorrect classifications, but the causes of variability and uncertainty in the measurements are not analyzed in a methodical manner. This research path addresses the problem of assessing the influence of extrinsic causes of variability (image acquisition conditions, relative position of the individual with respect to the camera, lighting and all other parameters that may differ from acquisitions in moments and places) on the comparison result. A methodology for the metrological characterization of face recognition algorithms is proposed that has been applied to some of the most common algorithms for face recognition, such as the algorithm of Linear Discriminant Analysis (LDA).

 

Involved researchers:

Collaborations:

  • University of Cassino, DAEIMI, Italy
  • University of Genoa, DIME, Italy,
  • Politecnico di Milano, Dipartimento di Meccanica, Italy

Fundings:

  • PRIN Project "Identificazione dei parametri di influenza estrinseci e valutazione degli effetti sull'acquisizione di immagini per il riconoscimento di volti", national coordinator: Prof. Consolatina Liguori, from 22/09/2008 to 22/09/2010.
  • PRIN Project "Incertezza di misura nella ricostruzione tridimensionale di volti mediante visione stereo", national coordinator: Prof. Michele Gasparetto, local coordinator: Prof. Consolatina Liguori, from 17/10/2011 to 17/10/2013.

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main references

  • G. Betta, D. Capriglione, F. Crenna, G. B. Rossi, M. Gasparetto, E. Zappa, C. Liguori, A. Paolillo, "Face-based recognition techniques: proposals for the metrological characterization of global and feature-based approaches", Measurement Science and Technology 22 (2011) 124005 (10pp), December 2011, Digital Object Identifier: 10.1088/0957-0233/22/12/124005.
  • G. Betta, D. Capriglione, F. Crenna, G. B. Rossi, M. Gasparetto, E. Zappa, C. Liguori, A. Paolillo, "A structured approach for the metrological characterization of biometric systems based on face recognition", Proc. of Fourth International Conference on Sensing Technology (ICST 2010), June 3 - 5, 2010, Lecce, Italy, pp. 34-39, ISBN 978-0-473-16942-8, Edited by: S. C. Mukhopadhyay, A. Fuchs, G. Sen Gupta and A. Lay-Ekuakille.
  • G. Betta, D. Capriglione, C. Liguori, G. Miele, A. Paolillo, P. Sommella, "Studio dell'incertezza di misura in algoritmi per il riconoscimento dei volti basati su analisi lineare discriminante". Relazione invitata (Invited contribute), Atti del XXVIII Congresso Nazionale dell'Associazione Italiana "Gruppo Misure Elettriche ed Elettroniche", Genova, 12-14 settembre 2011, pp. 307-315.
  • G. Betta, D. Capriglione, C. Liguori, A. Paolillo, A. Pietrosanto, "Una metodologia per la caratterizzazione metrologica di sistemi di misura biometrici basati sul riconoscimento dei volti", Atti del XXVII Congresso Nazionale del Gruppo Misure Elettriche ed Elettroniche, Gaeta, 13-15 settembre 2010, ISBN: 978-88-8317-053-9, pp.280-281.